Matériel scientifique
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Linseis Dilatomètre L76 Platinum Series
Matériaux
Céramique / verre / matériaux de constructionIndustrie
Céramique, matériaux de construction et industrie du verre, Recherche & Développement, Développement AcadémiqueÉchantillon de verre, point de ramollissement
L'échantillon de verre a été mesuré avec le dispositif de détection du ramollissement. Dans ce cas, la rampe de chauffage s’arrête, soit si la température de consigne est atteinte ou si le rétrécissement de l'échantillon atteint un seuil donné. Dans l'essai, le seuil a été fixé à - 100 um. Lorsque la variation de la longueur mesurée tombe en dessous de 100 pm de la valeur maximale du segment en cours, le chauffage est arrêté et le segment suivant (refroidissement) sera traité. Donc, le point de ramollissement peut être détecté dans une procédure simple et sans danger pour l'appareil. [media-downloader media_id="4177" texts="Cliquez ici pour télécharger plus de détails"]
Linseis DSC PT 1000
Le calorimètre à balayage différentiel Linseis DSC PT 1000 a été développé pour fournir un usage général TM - DSC avec une large gamme de température (-150 à 725°C) pour toutes les applications courantes.
En outre l'accent a été placé sur une ligne de base extrêmement stable et une reproductibilité élevée.
Notre conception permet un fonctionnement manuel et automatique. La cellule garantit une résistance mécanique et chimique maximum.
Le capteur MR12 120 thermocouples offre la plus haute résolution et une sensibilité exceptionnelle.
Linseis DSC PT 1600
La calorimétrie à balayage différentiel (DSC) est la méthode d’analyse thermique la plus courante en raison de la diversité des informations fournies. Le DSC PT 1600 haute température LINSEIS (HDSC / DTA) est conçu pour offrir une sensibilité calorimétrique maximale, des constantes de temps courtes et une chambre d’échantillonnage sans condensation.
Ces caractéristiques garantissent une résolution et une stabilité de base supérieures pendant toute la durée de vie de l’instrument. Ceci fournit un outil indispensable pour le développement de matériaux, la R&D et le contrôle de la qualité.
Le concept modulaire des systèmes HDSC et DTA permet l’utilisation de différents fours dans une plage de températures allant de -150 °C à 1750 °C.
La conception étanche au vide permet une détermination quantitative de l’enthalpie et de la Cp (chaleur spécifique) dans les atmosphères les plus propres et sous vide de 10E-5mbar. Les systèmes peuvent être mis à niveau avec un exemple de robot optionnel et couplés à une MS ou à un FTIR.
Système de mesure:
Des systèmes de mesure conviviaux et interchangeables, tels qu’un capteur DTA et deux capteurs DSC différents, sont disponibles. Chaque capteur DSC est disponible en tant que type E, K, S, B pour le DSC PT 1600.
Cela permet d’obtenir une température parfaite pour toute application, température ou atmosphère.
Linseis L75 PT Horizontal
Description
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Linseis L75 PT Quattro
Le Linseis L75 PT Quattro dilatomètre est un instrument unique en son genre, qui a été développé pour les clients qui doivent faire face à une grande quantité d'échantillons. Celui-ci a été construit avec quatre capteurs de mesure séparés, qui permettent de mesurer simultanément soit quatre échantillons distincts en une seule fois, ou trois échantillons distincts contre une référence.
Linseis L75 PT Vertical
Le dilatomètre vertical de recherche de la série de recherche L75V a été développé pour répondre aux exigences de la communauté universitaire et les laboratoires de recherche du monde entier.
Linseis LFA 1000 Laser Flash
Les informations sur les propriétés thermophysiques des matériaux et l’optimisation des flux de chaleur dans les produits finis prennent de plus en plus d’importance dans de nombreuses applications industrielles. Au cours des dernières décennies, la méthode flash est devenue la technique la plus utilisée pour déterminer la diffusivité thermique et la conductivité thermique des solides, des poudres et des liquides.
L’appareil de mesure LaserFlash LINSEIS LFA 1000 est une méthode efficace pour mesurer la diffusivité thermique, la conductivité thermique et la chaleur spécifique en mesurant simultanément jusqu’à trois, six ou 18 échantillons. Différents fours permettent d’effectuer des mesures dans une plage de températures allant de -125 °C à 2800 °C. Un plateau tournant pour un deuxième four est disponible en option.
Les informations sur les propriétés thermophysiques du matériau et le flux de chaleur pour optimiser le produit final sont de plus en plus importantes pour les applications industrielles. Depuis un certain temps, la méthode flash (LFA 1000) s’est imposée pour mesurer le transport de chaleur. Cette méthode éprouvée est utilisée avec succès pour mesurer la conductivité thermique et la conductivité thermique sur des matériaux solides, pulvérulents et liquides.
LFA 1000 – Coupe transversale
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Linseis STA PT 1000
Le STA PT1000 de Linseis est une thermobalance chargée par le haut, ce qui la rend très ergonomique. La thermobalance permet la mesure d’un échantillon d'un poids de 5 ou 10 g. Le four est spécialement conçu par nos ingénieurs pour permettre un chauffage et un refroidissement très rapide, ainsi qu'un contrôle de température très précis. Le système peut être équipé en option d'un dispositif de couplage pour l'analyse des gaz émis (EGA - Evolved Gas Analysis). L'appareil est généralement utilisé pour l'analyse de la composition, la stabilité thermique et les études d'oxydation.
Caractéristiques:
- Une balance chargée par le haut avec une résolution inférieure au microgramme
- Plage de température allant de la température ambiante jusqu'à 1000°C (température de l'échantillon)
- Systèmes de mesure échangeables TG - DTA/DSC
Nanosurf – CoreAFM
La meilleure recherche AFM
- Recherchez l'AFM à un prix compétitif
- Système intégré avec un faible encombrement
- 33 modes et fonctions
- Manipulation facile
Nanosurf – Flex-Axiom — AFM for materials research
Versatility, performance and seamless application extensions
- Easy to use and high performance
- High resolution and low-noise design
- Modes and accessories to handle all your research needs
- Extremely modular to keep you productive
- Upgradable for life science and operation on large stages
Applications
- Imaging of samples in air and liquid
- Advanced mechanical, electrical and magnetical modes
- Electrochemical AFM
- Environmental control
- Scanning thermal microscopy and nano thermal analysis (SThM and Nano-TA)
- Advanced force spectroscopy
Lateral force microscopy on polystyrene-polybutadiene blend
The lateral force imaging mode was used to image local friction differences between the two polymers
Polystyrene and polybutadiene are shown to have quite different surface properties |
Overlay of difference between lateral deflection in forward and backward directions on top of topography. The difference is dominated by friction forces. Polystyrene (green areas) shows a higher friction than polybutadiene.System: FlexAFM with ES2 controller Scan size: 9 µm Cantilever: PPP-CONTSCROverlay of friction on topography |
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Overlay of average of lateral deflection in forward and backward directions on top of topography. The average is dominated by slope variations in the sample. The steepest slope (in red) is observed close to a large inset of polystyrene. The average shows no large color difference between the polymers in flatter areas.Overlay of slope on topography |
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Line section of lateral deflection difference and average of forward and backward scan directions. Line section of friction and slope signals |
Electrochemical AFM
This report demonstrates the capability of the FlexAFM in studies of charged solid-liquid interfaces
In order to carry out electrochemical(in-situ)AFM experiments, a conductive sample was mounted in an electrochemical liquid cell and connected to a lab-build bipotentiostat. We employed Clavilier-type Au(111) single crystal bead crystal electrodes with facets of micrometer-wide terraces. As examples, we studied the lifting of the Au(111)-(pxV3)reconstruction, surface oxidation as well as the growth and dissolution of copper clusters in sulfuric acid solution.
3D Copper cluster grown on Au(111)
KPFM using the Nanosurf FlexAFM
Kelvin probe force microscopy imaging
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) is an extension of AFM. The technique was first published in 1991 by Nonnenmacher and coworkers. Using KPFM, images can be recorded that contain information on the local work function or local contact potential difference between tip and sample. Although all Nanite systems with an SPM S200 controller and all current Easyscan 2 AFM systems are in principle capable of performing KPFM, the FlexAFM has demonstrated best KPFM performance and is therefore the instrument of choice for this type of measurement. For a detailed description of requirements and procedures, please contact Nanosurf support. |
Topography. Scan Range: 10 µm x 10 µm. Z-range: 9 nm. |
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KPFM Signal. Scan range: 10 µm x 10 µm. Local charges that were placed on an insulating (oxide) surface layer in a "Swiss cross" pattern. Image courtesy: Marcin Kisiel, Thilo Glatzel and students of the Nanocurriculum of the University of Basel.KPFM signal (top) and simultaneously recorded Topography data (bottom) are shown. |
Nanosurf – FluidFM — Nano and cell manipulation
L'outil microfluidique pour
la nanomanipulation et la biologie unicellulaire
La microscopie à sonde FluidFM (FPM) combine la sensibilité à la force et la précision de position d'un AFM avec la technologie FluidFM de Cytosurge pour permettre toute une gamme d'applications passionnantes en biologie unicellulaire et en nanosciences. Nanosurf possède la plus longue expérience dans la fourniture de systèmes AFM avec le module complémentaire FluidFM ® , en tant que partenaire de coopération initial de Cytosurge pour cette technologie innovante - le système FlexAFM avec FluidFM ® a été lancé en 2013. Les modules complémentaires FluidFM sont disponibles pour les plates-formes FlexAFM et CoreAFM et une solution FPM intégrée unique sur le FlexAFM. [media-downloader media_id="835" texts="Click here for details"]
Nanosurf – NaioAFM — AFM for small samples
All-in-one atomic force microscope for small samples and nanoeducation
The NaioAFM is the ideal atomic force microscope for nanoeducation and small sample measurements. This all-in-one AFM system provides solid performance and easy handling, with a price tag and footprint that fit anyone and any place.- Ready-to-use, table-top AFM.
- Controller, scan head, airflow shielding, vibration isolation, camera, and sample positioning integrated into a single device.
- All standard AFM operating modes available.
- Integrated controller, XY-table, airflow shielding, and vibration isolation.
- High resolution top view camera and side view sample observation built in.
- No system setup needed: just plug into your PC and start the software.
- Simple cantilever exchange: no adjustment required.
- User-friendly software wizards quickly prepare measurement parameters.
- Very competitive pricing.
