De retour à Microscopes

Nanosurf – CoreAFM

La meilleure recherche AFM

  • Recherchez l’AFM à un prix compétitif
  • Système intégré avec un faible encombrement
  • 33 modes et fonctions
  • Manipulation facile

Le CoreAFM est le résultat de la combinaison intelligente des composants de base de l’AFM pour atteindre une polyvalence et une convivialité maximales. En raison de cette approche de conception fondamentale, le CoreAFM est équipé pour réaliser l’AFM au mieux.

La fusion d’un scanner moderne guidé par flexion, d’une platine d’échantillonnage XYZ, d’une caméra, d’une table d’isolation antivibratoire active et d’un blindage du flux d’air dans une seule unité tout-en-un donne un système AFM complet avec une empreinte compacte inégalée. Le système est livré avec un contrôleur 24 bits entièrement numérique développé spécifiquement pour la tête de balayage CoreAFM. Toutes les fonctions essentielles de l’AFM moderne font partie intégrante du système CoreAFM ; tout ce que vous avez à faire pour mettre le CoreAFM en service est de connecter le contrôleur et de brancher l’alimentation et l’USB.

Description

Fonctionnalité parfaitement extensible

Trente-deux modes standard et optionnels avec des modules complémentaires entièrement compatibles font du CoreAFM l’outil de choix pour des applications allant de la recherche sur les matériaux aux sciences de la vie et à l’électrochimie. À partir du système CoreAFM de base, ses fonctionnalités peuvent être étendues de manière transparente. Des modes et des fonctionnalités AFM avancés tels que le chauffage des échantillons, le contrôle environnemental, les scripts et bien d’autres peuvent facilement être ajoutés à votre CoreAFM. Pour les détails et les dépendances, voir le graphique de présentation.

Configuration et manipulation faciles

Voyez par vous-même à quel point il est facile de préparer et d’utiliser le CoreAFM. Regardez la vidéo pour une démonstration des principales fonctionnalités et un bref tutoriel sur la façon d’effectuer une mesure à l’aide de ce système.

Spike-Guard

L’intégration plus approfondie du système de l’Isostage se reflète dans le Spike-Guard unique , qui élimine les problèmes lors de l’imagerie. Bien que l’Isostage soit un système actif d’isolation des vibrations, des problèmes peuvent toujours survenir lorsque les distorsions sont trop sévères. Spike-Guard détecte de telles anomalies et réanalyse la ligne pour une image sans distorsion.

Spikeguard
Puissant et polyvalent

L’électronique de pointe avec ADC et DAC 24 bits assure un pilotage XYZ haute résolution du scanner 100 × 100 × 12 µm et permet une détection de force à faible bruit limitée uniquement par le cantilever. Trente-deux modes standard et optionnels avec des modules complémentaires entièrement compatibles font du CoreAFM l’outil de choix pour des applications allant de la recherche sur les matériaux aux sciences de la vie et à l’électrochimie. À partir du système CoreAFM de base, ses fonctionnalités peuvent être étendues de manière transparente.

Système fermé CoreAFM

Un compartiment de scanner fermé offre une isolation acoustique et de courant d’air, tandis que les positionneurs de platine d’échantillonnage vous permettent toujours d’ajuster votre échantillon

Système ouvert CoreAFM

Lorsque le compartiment du scanner est ouvert, il permet d’accéder au scanner et à la platine d’échantillonnage, par exemple pour placer un nouvel échantillon pour la mesure.

Modes d’imagerie CoreAFM

Cet aperçu montre les modes dont l’instrument est capable. Certains modes peuvent nécessiter des composants supplémentaires ou des options logicielles. Pour plus de détails, veuillez consulter la brochure ou nous contacter directement.

Modes d’imagerie standard

  • Mode de force statique
  • Mode de force latérale
  • Mode de force dynamique (mode de tapotement)
  • Mode d’imagerie de phase

Propriétés magnétiques

  • Microscopie à force magnétique

Propriétés électriques

  • AFM conducteur (C-AFM)
  • Microscopie à force piézoélectrique (PFM)
  • Microscopie à force électrostatique (EFM)
  • Microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM)

Propriétés mécaniques

  • Spectroscopie de force
  • Modulation de force
  • Rigidité et module
  • Adhésion
  • Dépliage et étirement
  • Mappage de force
  • Lithographie et nanomanipulation
  • AFM électrochimique (EC-AFM)

Modes de mesure inclus

Le CoreAFM peut effectuer une force statique, une force dynamique, une imagerie de phase, une MFM, une force latérale, une modulation de force, une spectroscopie standard et une lithographie standard hors de la boîte. Vous pouvez cependant améliorer votre expérience de mesure avec les kits de mode CoreAFM.

Kits de mode standard inclus

Par défaut, le CoreAFM est livré avec le kit de mode force statique , kit de mode force dynamique et kit de mode d’imagerie de phase pour vous aider à démarrer tout de suite. Selon le mode de mesure, un kit de mode peut comprendre des échantillons, des porte-à-faux appropriés, des accessoires ou une combinaison de ceux-ci.

Kits de mode standard supplémentaires

Kits de mode de niveau standard supplémentaires qui peuvent être acquis séparément sont le kit de spectroscopie norme , kit de lithographie classique , kit standard en mode MFM , kit de mode liquide standard , kit de mode de force latérale , et kit de mode de modulation de la force .

Spécifications du système

Scanner
Max. plage de balayage (XY) 100 µm (1) <5 nm planéité
Max. plage de hauteur (Z) 12 µm (2) boucle fermée
Bruit du détecteur (RMS) typ. 60 h max. 100 h
Bruit du capteur (RMS) typ. 180 h max. 250 h
Bruit dynamique (RMS) typ. 40 h max. 19 h 00
Bruit statique (RMS) typ. 100 h max. 200 heures
(1) Tolérances de fabrication ± 5%
(2) Tolérances de fabrication ± 10%
Manette
Contrôle de scan et entrées ADC / DAC 24 bits 200 kHz
Verrouillage numérique (2 ×) ADC / DAC 16 bits 20 MHz
Utilisateur in / out, Excitation in ADC / DAC 24 bits 5 MHz, 10 V
Synchronisation numérique Synchronisation ligne / trame 2 bits 5 V, TTL
Réglage thermique 10 Hz – 2 MHz
FPGA, processeur 32 bits, 256 Mo de RAM programmable USB 2.0
Cantilever
Largeur min. 20 μm
Longueur min. 40 μm
Revêtement réfléchissant Revêtement réfléchissant recommandé
Mesures liquides Oui, avec revêtement en or
Rainures d’alignement Requis par défaut
Des supports en porte-à-faux spéciaux sans rainures d’alignement sont disponibles
Mode dynamique de fréquence de résonance <4 MHz
Forme en porte-à-faux Porte-à-faux rectangulaires simples et porte-à-faux à plusieurs niveaux (selon la version de la tête de lecture et le support en porte-à-faux)
Épaisseur des copeaux 300 μm, 500 μm ou 600 μm selon le support cantilever

Dimensions du système

Dimensions de la tête de numérisation CoreAFM

 

 

Vous aimerez peut-être aussi…

Nanosurf DriveAFM
Nanosurf DriveAFM
Le DriveAFM, le nouvel instrument phare de Nanosurf utilise les dernières technologies pour offrir des  performances stables et haut de gamme. Il a été conçu pour répondre aux besoins d'une recherche de premier ordre, aujourd'hui et dans le futur.
  •  CleanDrive : excitation stable dans l'air et le liquide
  •  Bruit ultra-faible
  • Entraînement direct : imagerie haute résolution et grande zone de numérisation
  • Système entièrement motorisé : contrôle total via logiciel.
[media-downloader media_id="4584" texts="Cliquez ici pour télécharger plus de détails"]  
Lire la suite
Nanosurf - NaioAFM — AFM for small samples
Nanosurf – NaioAFM — AFM for small samples

All-in-one atomic force microscope for small samples and nanoeducation

The NaioAFM is the ideal atomic force microscope for nanoeducation and small sample measurements. This all-in-one AFM system provides solid performance and easy handling, with a price tag and footprint that fit anyone and any place.
  • Ready-to-use, table-top AFM.
  • Controller, scan head, airflow shielding, vibration isolation, camera, and sample positioning integrated into a single device.
  • All standard AFM operating modes available.
  • Integrated controller, XY-table, airflow shielding, and vibration isolation.
  • High resolution top view camera and side view sample observation built in.
  • No system setup needed: just plug into your PC and start the software.
  • Simple cantilever exchange: no adjustment required.
  • User-friendly software wizards quickly prepare measurement parameters.
  • Very competitive pricing.
[media-downloader media_id="836" texts="Click here for details"]   [embed]https://www.youtube.com/watch?v=mCUwm5TLHsw[/embed]
Lire la suite
Nanosurf - Flex-Axiom — AFM for materials research
Nanosurf – Flex-Axiom — AFM for materials research

Versatility, performance and seamless application extensions

  • Easy to use and high performance
  • High resolution and low-noise design
  • Modes and accessories to handle all your research needs
  • Extremely modular to keep you productive
  • Upgradable for life science and operation on large stages

Applications

  • Imaging of samples in air and liquid
  • Advanced mechanical, electrical and magnetical modes
  • Electrochemical AFM
  • Environmental control
  • Scanning thermal microscopy and nano thermal analysis (SThM and Nano-TA)
  • Advanced force spectroscopy

Lateral force microscopy on polystyrene-polybutadiene blend

The lateral force imaging mode was used to image local friction differences between the two polymers

Polystyrene and polybutadiene are shown to have quite different surface properties
lateral-force-1 Overlay of difference between lateral deflection in forward and backward directions on top of topography. The difference is dominated by friction forces. Polystyrene (green areas) shows a higher friction than polybutadiene.System: FlexAFM with ES2 controller Scan size: 9 µm Cantilever: PPP-CONTSCROverlay of friction on topography
lateral-force-2 Overlay of average of lateral deflection in forward and backward directions on top of topography. The average is dominated by slope variations in the sample. The steepest slope (in red) is observed close to a large inset of polystyrene. The average shows no large color difference between the polymers in flatter areas.Overlay of slope on topography
lateral-force-3 Line section of lateral deflection difference and average of forward and backward scan directions. Line section of friction and slope signals

Electrochemical AFM

This report demonstrates the capability of the FlexAFM in studies of charged solid-liquid interfaces

In order to carry out electrochemical(in-situ)AFM experiments, a conductive sample was mounted in an electrochemical liquid cell and connected to a lab-build bipotentiostat. We employed Clavilier-type Au(111) single crystal bead crystal electrodes with facets of micrometer-wide terraces. As examples, we studied the lifting of the Au(111)-(pxV3)reconstruction, surface oxidation as well as the growth and dissolution of copper clusters in sulfuric acid solution. electrochemical-afm

3D Copper cluster grown on Au(111)

KPFM using the Nanosurf FlexAFM

Kelvin probe force microscopy imaging

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) is an extension of AFM. The technique was first published in 1991 by Nonnenmacher and coworkers. Using KPFM, images can be recorded that contain information on the local work function or local contact potential difference between tip and sample. Although all Nanite systems with an SPM S200 controller and all current Easyscan 2 AFM systems are in principle capable of performing KPFM, the FlexAFM has demonstrated best KPFM performance and is therefore the instrument of choice for this type of measurement. For a detailed description of requirements and procedures, please contact Nanosurf support.
kpmg Topography. Scan Range: 10 µm x 10 µm. Z-range: 9 nm.
kpmg-2 KPFM Signal. Scan range: 10 µm x 10 µm. Local charges that were placed on an insulating (oxide) surface layer in a "Swiss cross" pattern. Image courtesy: Marcin Kisiel, Thilo Glatzel and students of the Nanocurriculum of the University of Basel.KPFM signal (top) and simultaneously recorded Topography data (bottom) are shown.
[media-downloader media_id="834" texts="Click here for details"]
Lire la suite
Nanosurf - NaioSTM — STM for nanoeducation
Nanosurf – NaioSTM — STM for nanoeducation
  • Atomic resolution in minutes.
  • Extremely simple handling and reliable operation.
  • Controller and scan head integrated into a single device: just connect USB and power.
An Easy Entry into the World of Atoms The first scanning tunneling microscope (STM) was developed in 1981 by Binnig and Rohrer at the IBM Research Laboratory in Rüschlikon, Switzerland, for the first time making atoms directly visible to a small group of specialists. In 1997, Nanosurf went one step further and brought atoms to the classroom! Today, well over a thousand Nanosurf STMs play a crucial role in nanotechnology education around the globe: • Teachers appreciate the ease of use of Nanosurf STMs, allowing them to offer quick and hassle-free classroom demonstrations to their students. • Students are motivated by the rapid successes achieved when using the STMs themselves during hands-on training. • Anyone can safely handle a Nanosurf STM, since STM tips are simply cut from Pt/Ir wire without requiring etching in hazardous substances. The NaioSTM is the successor to the well-known Easyscan 2 STM and brings together scan head and controller in a single instrument for even greater ease of installation, usability, and transportability. The whole setup is very resistant to vibrations and can be used in standard classroom situations. [media-downloader media_id="837" texts="Cliquez ici pour télécharger plus de détails"]   [embed]https://www.youtube.com/watch?v=dZeZn3Pt2Ss[/embed]
Lire la suite
Nanosurf - FluidFM — Nano and cell manipulation
Nanosurf – FluidFM — Nano and cell manipulation

L'outil microfluidique pour

la nanomanipulation et la biologie unicellulaire

La microscopie à sonde FluidFM (FPM) combine la sensibilité à la force et la précision de position d'un AFM avec la technologie FluidFM de Cytosurge pour permettre toute une gamme d'applications passionnantes en biologie unicellulaire et en nanosciences. Nanosurf possède la plus longue expérience dans la fourniture de systèmes AFM avec le module complémentaire FluidFM ® , en tant que partenaire de coopération initial de Cytosurge pour cette technologie innovante - le système FlexAFM avec FluidFM ® ​​a été lancé en 2013. Les modules complémentaires FluidFM sont disponibles pour les plates-formes FlexAFM et CoreAFM et une solution FPM intégrée unique sur le FlexAFM. [media-downloader media_id="835" texts="Click here for details"]
Lire la suite