Nanosurf – CoreAFM

La meilleure recherche AFM

Recherchez l’AFM à un prix compétitif
Système intégré avec un faible encombrement
33 modes et fonctions
Manipulation facile

Le CoreAFM est le résultat de la combinaison intelligente des composants de base de l’AFM pour atteindre une polyvalence et une convivialité maximales. En raison de cette approche de conception fondamentale, le CoreAFM est équipé pour réaliser l’AFM au mieux.

La fusion d’un scanner moderne guidé par flexion, d’une platine d’échantillonnage XYZ, d’une caméra, d’une table d’isolation antivibratoire active et d’un blindage du flux d’air dans une seule unité tout-en-un donne un système AFM complet avec une empreinte compacte inégalée. Le système est livré avec un contrôleur 24 bits entièrement numérique développé spécifiquement pour la tête de balayage CoreAFM. Toutes les fonctions essentielles de l’AFM moderne font partie intégrante du système CoreAFM ; tout ce que vous avez à faire pour mettre le CoreAFM en service est de connecter le contrôleur et de brancher l’alimentation et l’USB.

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Description

Fonctionnalité parfaitement extensible

Trente-deux modes standard et optionnels avec des modules complémentaires entièrement compatibles font du CoreAFM l’outil de choix pour des applications allant de la recherche sur les matériaux aux sciences de la vie et à l’électrochimie. À partir du système CoreAFM de base, ses fonctionnalités peuvent être étendues de manière transparente. Des modes et des fonctionnalités AFM avancés tels que le chauffage des échantillons, le contrôle environnemental, les scripts et bien d’autres peuvent facilement être ajoutés à votre CoreAFM. Pour les détails et les dépendances, voir le graphique de présentation.

Configuration et manipulation faciles

Voyez par vous-même à quel point il est facile de préparer et d’utiliser le CoreAFM. Regardez la vidéo pour une démonstration des principales fonctionnalités et un bref tutoriel sur la façon d’effectuer une mesure à l’aide de ce système.

Spike-Guard

L’intégration plus approfondie du système de l’Isostage se reflète dans le Spike-Guard unique , qui élimine les problèmes lors de l’imagerie. Bien que l’Isostage soit un système actif d’isolation des vibrations, des problèmes peuvent toujours survenir lorsque les distorsions sont trop sévères. Spike-Guard détecte de telles anomalies et réanalyse la ligne pour une image sans distorsion.

Puissant et polyvalent

L’électronique de pointe avec ADC et DAC 24 bits assure un pilotage XYZ haute résolution du scanner 100 × 100 × 12 µm et permet une détection de force à faible bruit limitée uniquement par le cantilever. Trente-deux modes standard et optionnels avec des modules complémentaires entièrement compatibles font du CoreAFM l’outil de choix pour des applications allant de la recherche sur les matériaux aux sciences de la vie et à l’électrochimie. À partir du système CoreAFM de base, ses fonctionnalités peuvent être étendues de manière transparente.

Un compartiment de scanner fermé offre une isolation acoustique et de courant d’air, tandis que les positionneurs de platine d’échantillonnage vous permettent toujours d’ajuster votre échantillon

Lorsque le compartiment du scanner est ouvert, il permet d’accéder au scanner et à la platine d’échantillonnage, par exemple pour placer un nouvel échantillon pour la mesure.

Modes d’imagerie CoreAFM

Cet aperçu montre les modes dont l’instrument est capable. Certains modes peuvent nécessiter des composants supplémentaires ou des options logicielles. Pour plus de détails, veuillez consulter la brochure ou nous contacter directement.

Modes d’imagerie standard

Mode de force statique
Mode de force latérale
Mode de force dynamique (mode de tapotement)
Mode d’imagerie de phase

Propriétés magnétiques

Microscopie à force magnétique

Propriétés électriques

AFM conducteur (C-AFM)
Microscopie à force piézoélectrique (PFM)
Microscopie à force électrostatique (EFM)
Microscopie à force de sonde Kelvin (KPFM)

Propriétés mécaniques

Spectroscopie de force
Modulation de force
Rigidité et module
Adhésion
Dépliage et étirement
Mappage de force
Lithographie et nanomanipulation
AFM électrochimique (EC-AFM)

Modes de mesure inclus

Le CoreAFM peut effectuer une force statique, une force dynamique, une imagerie de phase, une MFM, une force latérale, une modulation de force, une spectroscopie standard et une lithographie standard hors de la boîte. Vous pouvez cependant améliorer votre expérience de mesure avec les kits de mode CoreAFM.

Kits de mode standard inclus

Par défaut, le CoreAFM est livré avec le kit de mode force statique , kit de mode force dynamique et kit de mode d’imagerie de phase pour vous aider à démarrer tout de suite. Selon le mode de mesure, un kit de mode peut comprendre des échantillons, des porte-à-faux appropriés, des accessoires ou une combinaison de ceux-ci.

Kits de mode standard supplémentaires

Kits de mode de niveau standard supplémentaires qui peuvent être acquis séparément sont le kit de spectroscopie norme , kit de lithographie classique , kit standard en mode MFM , kit de mode liquide standard , kit de mode de force latérale , et kit de mode de modulation de la force .

Spécifications du système

Scanner
Max. plage de balayage (XY)	100 µm ⁽¹⁾	<5 nm planéité
Max. plage de hauteur (Z)	12 µm ⁽²⁾	boucle fermée
Bruit du détecteur (RMS)	typ. 60 h	max. 100 h
Bruit du capteur (RMS)	typ. 180 h	max. 250 h
Bruit dynamique (RMS)	typ. 40 h	max. 19 h 00
Bruit statique (RMS)	typ. 100 h	max. 200 heures
(1) Tolérances de fabrication ± 5% (2) Tolérances de fabrication ± 10%

Manette
Contrôle de scan et entrées	ADC / DAC 24 bits	200 kHz
Verrouillage numérique (2 ×)	ADC / DAC 16 bits	20 MHz
Utilisateur in / out, Excitation in	ADC / DAC 24 bits	5 MHz, 10 V
Synchronisation numérique	Synchronisation ligne / trame 2 bits	5 V, TTL
Réglage thermique	10 Hz – 2 MHz
FPGA, processeur 32 bits, 256 Mo de RAM	programmable	USB 2.0

Cantilever
Largeur	min. 20 μm
Longueur	min. 40 μm
Revêtement réfléchissant	Revêtement réfléchissant recommandé
Mesures liquides	Oui, avec revêtement en or
Rainures d’alignement	Requis par défaut Des supports en porte-à-faux spéciaux sans rainures d’alignement sont disponibles
Mode dynamique de fréquence de résonance	<4 MHz
Forme en porte-à-faux	Porte-à-faux rectangulaires simples et porte-à-faux à plusieurs niveaux (selon la version de la tête de lecture et le support en porte-à-faux)
Épaisseur des copeaux	300 μm, 500 μm ou 600 μm selon le support cantilever

Dimensions du système

Dimensions de la tête de numérisation CoreAFM

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	Overlay of average of lateral deflection in forward and backward directions on top of topography. The average is dominated by slope variations in the sample. The steepest slope (in red) is observed close to a large inset of polystyrene. The average shows no large color difference between the polymers in flatter areas.Overlay of slope on topography
	Line section of lateral deflection difference and average of forward and backward scan directions. Line section of friction and slope signals

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	Topography. Scan Range: 10 µm x 10 µm. Z-range: 9 nm.
	KPFM Signal. Scan range: 10 µm x 10 µm. Local charges that were placed on an insulating (oxide) surface layer in a "Swiss cross" pattern. Image courtesy: Marcin Kisiel, Thilo Glatzel and students of the Nanocurriculum of the University of Basel.KPFM signal (top) and simultaneously recorded Topography data (bottom) are shown.

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